J. Bauch¹, J. Brechbühl¹, H.-J. Ullrich¹, G. Meinl², H. Lin¹, W. Kebede¹

1Institut für Werkstoffwissenschaft
²Institut für Geometrie der Technischen Universität Dresden, Germany

Innovative Analysis of X-ray Microdiffraction Images on Selected Applications of the Kossel Technique

Starting from the origin and the informational content of Kossel interferences excited by electron and synchrotron radiation beams selected examples of microstructural applications, such as the precision determination of lattice constants, the precision determination of crystallographic orientation of single grains, the determination of local stresses/strains and the determination of tetragonal distortions of cubic lattices including the description of a variety of methods for analysis are presented.

Ausgehend vom Prinzip der Entstehung und des Informationsgehaltes von elektronenstrahl- bzw. synchrotronstrahlangeregten Kossel-Aufnahmen werden Auswertungsmethoden und Anwendungen im Mikrobereich, wie die Präzisionsgitterkonstantenbestimmung, die Einzelkorn-Orientierungsbestimmung, die Eigenspannungsanalyse sowie die Diagnose von Abweichungen von der kubischen Symmetrie an ausgewählten Beispielen beschrieben.

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